1. Test generation for VLSI chips
پدیدآورنده : Vishwani D. Agrawal & Sharad C. Seth
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع :
رده :
TK
7874
.
A3
2. Tutorial test generation for VLSI chips
پدیدآورنده : ]edited by[ Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits,، Automatic checkout equipment
رده :
TK
7874
.
T8857
1988
